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Use este identificador para citar ou linkar para este item: https://repositorio.ufpb.br/jspui/handle/tede/5704
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Campo DCValorIdioma
dc.creatorXavier, Mário Cesar Soares-
dc.date.accessioned2015-05-14T12:14:01Z-
dc.date.accessioned2018-07-21T00:08:27Z-
dc.date.available2011-11-22-
dc.date.available2018-07-21T00:08:27Z-
dc.date.issued2011-09-16-
dc.identifier.citationXAVIER, Mário Cesar Soares. Estudo experimental da emissão dos modos TE e TM de um laser semicondutor sob realimentação ortogonal. 2011. 91 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal da Paraí­ba, João Pessoa, 2011.por
dc.identifier.urihttps://repositorio.ufpb.br/jspui/handle/tede/5704-
dc.description.abstractIn this work we present results of systematic experimental experiments observing the emission of semiconductor lasers under optical orthogonal feedback. Following previous work on the frequency behavior of laser diodes submitted to orthogonal feedback, we analyse the behavior of the two orthogonal polarization of the radiation. The emission has a main polarization (the so-called TE polarization) whose intensity is higher than the orthogonal one (the TM polarization). This ratio depends on the type of laser diode and we have measure ration between the two modes of about 100, 500, 800 and 1300 for different lasers, from different models and producers. We catheterize the TM mode, whose current threshold and spectral width is about the same than the main TE mode. We also analyze how the frequency shifts as a function of the feedback power, and we observed s correlation between this frequency shift and the ratio between the two polarizations. We interpreted this result as been due to the geometrical coupling of the feedback beam into the semiconductor cavity. The is a good agreement of the measurement with the calculated behavior.eng
dc.description.provenanceMade available in DSpace on 2015-05-14T12:14:01Z (GMT). No. of bitstreams: 1 arquivototal.pdf: 1772565 bytes, checksum: 5c517512ca9bac528800c128842a30be (MD5) Previous issue date: 2011-09-16eng
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dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior - CAPES-
dc.formatapplication/pdfpor
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal da Paraí­bapor
dc.rightsAcesso abertopor
dc.subjectFísica Atômica e Molecularpor
dc.subjectLasers semicondutorespor
dc.subjectEmissão modos TE e TMpor
dc.subjectRealimentação ortogonalpor
dc.titleEstudo experimental da emissão dos modos TE e TM de um laser semicondutor sob realimentação ortogonalpor
dc.typeDissertaçãopor
dc.contributor.advisor1Oriá, Marcos César Santos-
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/0143459797857429por
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/5782444178715342por
dc.description.resumoNeste trabalho apresentamos um estudo sistemático da emissão de lasers semicondutores submetidos a uma realimentação ótica ortogonal. Após uma série de estudos anteriores da dinâmica em freqüência de diodos lasers com re-injeção ótica ortogonal, estamos analisando mais detalhadamente o comportamento das duas componentes de polarização da radiação laser. A emissão principal (TE) tem intensidade entre dezenas e centenas de vezes maior que a emissão no modo ortogonal (TM) dependendo do tipo do diodo laser. Medimos fatores de cerca de 100, 500, 800 e 1300 para lasers de diferentes fabricantes e modelos. Inicialmente observamos, para alguns lasers, que a pequena emissão TM também tem largura de emissão comparável ao modo principal e possui o mesmo limiar de corrente. Analisamos também a dependência do deslocamento em freqüência que ocorre quando re-injetamos com polarização cruzada parte do feixe laser na cavidade semicondutora. Observamos que para diferentes lasers existe uma variação sistemática do deslocamento para uma mesma potência de realimentação. Fizemos uma interpretação simples desse comportamento em termos do acoplamento geométrico do nível de luz que volta na junção do semicondutor.por
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.departmentFísicapor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Físicapor
dc.publisher.initialsUFPBpor
dc.subject.cnpqCIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICApor
dc.thumbnail.urlhttp://tede.biblioteca.ufpb.br:8080/retrieve/14438/arquivototal.pdf.jpg*
Aparece nas coleções:Centro de Ciências Exatas e da Natureza (CCEN) - Programa de Pós-Graduação em Física

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