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metadata.dc.type: Dissertação
Title: Otimização genética de sequências de padrões de teste para circuitos VLSI.
metadata.dc.creator: Dias, Leonardo Alves
metadata.dc.contributor.advisor1: Souza, Cleonilson Protásio de
metadata.dc.description.resumo: Um circuito integrado (CI) em modo de teste apresenta um maior consumo energético comparado ao modo de operação normal, devido ao aumento do número de transições nos nós do circuito decorrentes da aplicação de padrões de teste utilizados para estimular o CI durante a execução do teste resultando em uma alta dissipação de potência que pode danificar o CI, acarretando em maiores custos para as fabricantes. Assim, neste trabalho é proposto um algoritmo genético para otimização de sequências de padrões de teste visando o baixo consumo energético, durante a execução do teste, mantendo uma adequada cobertura de falhas. É proposto também o uso do algoritmo de Berlekamp-Massey para sintetizar um gerador integrado de padrões de teste com baixa sobreárea de hardware capaz de gerar as sequências otimizadas baseado em Registrador de Deslocamento com Realimentação Linear. A otimização das sequências é feita através da redução do número de transições nos nós cuja avaliação é feita por um programa de computador desenvolvido nesta pesquisa em C++. Por fim, simulações foram realizadas com o algoritmo genético para verificar o comportamento em relação a otimização do número de transições, da cobertura de falhas e da sobreárea de hardware.
Abstract: An integrated circuit (IC) in test mode has a higher energy consumption compared to the normal operating mode, due to the increased number of transitions in the nodes of the resulting circuit applying test patterns used to stimulate the CI during the test run resulting in high power dissipation which can damage the IC, resulting in higher costs for manufacturers. In this work we propose a genetic algorithm to optimize sequences of test patterns aiming at low energy consumption during the test run, maintaining an adequate fault coverage. It is also proposed using the Berlekamp-Massey algorithm to synthesize an integrated test patterns with low hardware sobreárea generator capable of generating sequences optimized based on Shift Register with Linear Feedback. The optimization of the sequences is done by reducing the number of transitions at nodes whose evaluation is done by a computer program developed in this study in C ++. Finally, simulations were performed with the genetic algorithm to check the behavior to optimize the number of transitions, the fault coverage and hardware sobreárea.
Keywords: Teste de circuitos integrados, geradores de padrões de teste, consumo energético, algoritmo de Berlekamo-Massey.
Integrated circuit pattern , test pattern generators , energy consumption , Berlekamo -Massey algorithm.
metadata.dc.subject.cnpq: ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
metadata.dc.language: por
metadata.dc.publisher.country: Brasil
Publisher: Universidade Federal da Paraíba
metadata.dc.publisher.initials: UFPB
metadata.dc.publisher.department: Engenharia Elétrica
metadata.dc.publisher.program: Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
Citation: DIAS, Leonardo Alves. Otimização genética de sequências de padrões de teste para circuitos VLSI. 2016. 88 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Universidade Federal da Paraíba, João Pessoa, 2016.
metadata.dc.rights: Acesso Aberto
URI: https://repositorio.ufpb.br/jspui/handle/tede/8501
Issue Date: 29-Feb-2016
Appears in Collections:Centro de Energias Alternativas e Renováveis (CEAR) - Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica

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